Домой Новости Индустрия и рынок ASML сохранит верность технологии LPP вместо ускорителей частиц для EUV-литографии

ASML сохранит верность технологии LPP вместо ускорителей частиц для EUV-литографии

Компания ASML намерена развивать текущую технологию лазерно-плазменных источников света, игнорируя альтернативные разработки на основе ускорителей частиц.

7
0

Компания ASML, являющаяся единственным в мире производителем сканеров для экстремальной ультрафиолетовой (EUV) литографии, подтвердила намерение продолжать использование лазерно-плазменной технологии (LPP) в своих установках. Согласно аналитической заметке JPMorgan для клиентов, производитель не видит оснований для перехода на технологию лазеров на свободных электронах (FEL), которую ранее поддерживал Илон Маск.

Установка EUV литографии производства ASML
Компания ASML совершенствует свои технологии генерации EUV-излучения для литографического оборудования

Особенности текущей лазерно-плазменной технологии ASML

Современные EUV-системы работают путем воздействия мощных импульсов CO2-лазера на микроскопические капли расплавленного олова диаметром около 30 микрон. При попадании лазерного излучения капли превращаются в ионизированную плазму, температура электронов в которой достигает нескольких десятков электрон-вольт. Это приводит к генерации EUV-излучения с длиной волны 13,5 нм.

Для сбора света используется эллиптическое зеркало диаметром примерно 0,5 метра, имеющее многослойное покрытие из молибдена и кремния. Оно отражает излучение в направлении промежуточного фокуса на входе в сканер. Поскольку материалы поглощают EUV-излучение, весь оптический тракт должен функционировать в глубоком вакууме, а использование исключительно отражающей оптики вместо преломляющей создает дополнительные сложности при масштабировании мощности.

Несмотря на технические вызовы, ASML удалось добиться существенного прогресса: мощность источников LPP была увеличена с 250 Вт до 500 Вт. В ближайшие годы компания планирует поднять этот показатель до 1000 Вт, а также увеличить частоту генерации капель олова до 100 000 в секунду.

Перспективы и ограничения лазеров на свободных электронах

Технология FEL предполагает ускорение электронов почти до скорости света с последующим прохождением пучка через ондулятор — последовательность магнитов, заставляющих электроны колебаться и излучать свет. Этот метод позволяет отказаться от капель олова и сопутствующего мусора, который требует применения защитных пелликул на фотошаблонах. Теоретически, один FEL-источник способен обеспечить значительно более высокую мощность, чем несколько LPP-систем.

EUV литография — иллюстрация 2 к материалу
ASML планирует увеличить мощность источников до 1000 Вт

Однако для внедрения FEL в промышленное производство требуются сложные ускорители частиц, источники электронов, протяженные ондуляторы и системы распределения излучения с использованием зеркал, способных выдерживать крайне высокую мощность EUV. Создание такой инфраструктуры, соответствующей строгим требованиям по надежности, доступности и стоимости оборудования для полупроводниковых фабрик, представляет собой колоссальную инженерную задачу.

По оценкам экспертов, несмотря на активный интерес к разработкам FEL в Китае, США и Японии, потребуется не менее десяти лет, прежде чем данная технология сможет конкурировать с LPP в реальных производственных условиях. Ожидается, что процесс разработки потребует многомиллиардных инвестиций, что ставит под угрозу выживаемость некоторых компаний, делающих ставку на FEL.

Технические тонкости процесса генерации и сложности оптики

Важным аспектом работы LPP-систем является специфика взаимодействия лазера с веществом. Процесс превращения капель олова в плазму требует крайне высокой точности наведения, так как капли имеют диаметр всего около 30 микрон. Сложность оптической системы обусловлена тем, что практически все известные материалы интенсивно поглощают EUV-излучение. Даже специализированные многослойные зеркала, состоящие из чередующихся слоев молибдена и кремния, поглощают существенную часть светового потока, что делает потери энергии неизбежными на каждом этапе пути — от источника до промежуточного фокуса. Именно этот фактор поглощения является одной из ключевых причин, почему достижение необходимой мощности источника остается столь сложной инженерной задачей.

EUV литография — иллюстрация 3 к материалу

Принцип работы FEL и сопутствующие вызовы

В отличие от плазменного метода, технология лазера на свободных электронах (FEL) формирует излучение через взаимодействие электронов с их собственным электромагнитным полем в ондуляторе. Прохождение электронного пучка через серию магнитов с чередующейся полярностью заставляет частицы совершать колебательные движения, что приводит к формированию микроскопических сгустков (микробанчингу) электронов. Это позволяет генерировать свет с необходимой длиной волны 13,5 нм без образования частиц мусора, который в текущих установках LPP требует обязательного использования защитных пелликул для сохранения целостности дорогостоящих фотошаблонов.

Тем не менее, переход на FEL требует создания гигантской и крайне сложной инфраструктуры, включающей не только сам ускоритель, но и системы управления пучком, а также надежную радиационную защиту. Главным препятствием остается разработка распределительной системы зеркал, которые должны не только направлять, но и выдерживать экстремальную плотность энергии без деградации оптических свойств. В отрасли отмечают, что ASML уже потратила многие годы на доведение текущих LPP-систем до стандартов доступности и эффективности, принятых в современных полупроводниковых фабриках, и именно этот накопленный опыт делает технологию LPP наиболее предпочтительной в обозримом будущем.