На Петербургском международном экономическом форуме (ПМЭФ) был представлен первый отечественный комплекс для тестирования безопасности микросхем с помощью лазера. Разработка, получившая название LFI-26 (Laser Fault Injection), создана специалистами Positive Technologies.
Изображение сгенерировано нейросетью Midjourney
Как подчеркнули в компании, до этого в России подобные устройства не выпускались, из-за чего организации были вынуждены приобретать соответствующее оборудование у зарубежных производителей — например, у французской компании ALPhANOV и нидерландской Riscure.
По словам разработчиков, созданный комплекс позволяет внедрять «управляемые сбои» в работу микросхем посредством сфокусированного лазерного луча. Данный метод предоставляет полный контроль над аппаратным обеспечением и обрабатываемой информацией, что помогает оперативно находить скрытые уязвимости в защите чипов.
Руководитель R&D Центра Positive Labs Алексей Усанов отметил:
Проектирование и производство собственного лазерного комплекса LFI-26 было необходимым шагом, чтобы сохранить и развивать компетенции в области аппаратной безопасности в условиях, когда западные вендоры ушли с рынка. Без подобного оборудования невозможно ни полноценно анализировать безопасность иностранных чипов, ни подтверждать качество защиты отечественной элементной базы.
Области применения лазерного комплекса LFI-26 охватывают самые разные категории устройств: от защищенных банковских карт и аппаратных криптокошельков до смартфонов iPhone, автомобильных блоков управления и даже специализированных орбитальных спутников.
Стоит отметить, что новый отечественный комплекс вошел в расширенную линейку профессионального оборудования для комплексных исследований безопасности современной микроэлектроники. Помимо систем лазерного воздействия, в нее также вошли специализированные установки для электромагнитного влияния (EMFI-26) и анализа побочных электромагнитных каналов (EMSCA-26).
